[发明专利]嵌入式开发调试分析方法、系统以及存储介质在审
| 申请号： | 202011079360.7 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112130873A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 陈永坚;李海新;赵庆阳 | 申请（专利权）人： | 佛吉亚歌乐电子（佛山）有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/61 | 分类号： | G06F8/61;G06F11/36 |
| 代理公司： | 佛山市智汇聚晨专利代理有限公司 44409 | 代理人： | 施冬兰 |
| 地址： | 528100 广东省佛山市三水中心*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及数据处理技术领域，尤其是一种嵌入式开发调试分析方法、系统以及存储介质。该方法包括：解析芯片的特征信息文件，获取芯片的特征信息；根据所述特征信息判断芯片类型，在所述特征信息文件中增加与该芯片类型适配的第一烧录单元；创建烧录事件文件，在烧录事件文件中增加包含烧录内容的第二烧录单元，通过第二烧录单元调用第一烧录单元中的烧录方法，以完成对所述烧录内容的烧录；该系统包括解析模块、判断模块和烧写模块。本发明通过识别芯片类型，实现多种类芯片的烧写及烧写相关操作，兼容性良好，有效适用于多种烧写情景，同时具备总线数据抓取功能以及串口数据抓取功能，可进行多种数据的调试及分析，调试过程中无需反复切换调试工具。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 开发 调试 分析 方法 系统 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
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