[发明专利]新型复合量子阱结构的VCSEL芯片结构及制备方法有效

专利信息
申请号: 202011079270.8 申请日: 2020-10-10
公开(公告)号: CN112398001B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 尧舜;戴伟;杨默;张颜儒;王青;李军;张杨 申请(专利权)人: 华芯半导体研究院(北京)有限公司
主分类号: H01S5/187 分类号: H01S5/187;H01S5/34;H01S5/343
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 周慧云
地址: 100020 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了新型复合量子阱结构的VCSEL芯片结构及制备方法。该VCSEL芯片包括衬底;衬底上依次生长的缓冲层、N型布拉格反射镜、量子阱、氧化层、P型布拉格反射镜以及P型GaAs层;所述量子阱包括依次生长的第一space层、第一外垒层、阱垒层、第二外垒层和第二space层;所述阱垒层包括重叠生长的A1GaAs势垒和InGaAs势阱,所述重叠生长的A1GaAs势垒和InGaAs势阱中包括至少两个不同的A1GaAs势垒或/和至少两个不同的InGaAs势阱。本发明将阱垒重复循环生长方式变更为复合生长方式,生长多个MQW峰值波长,增加了增益谱宽度,更大的温度范围内得到平坦的增益。
搜索关键词: 新型 复合 量子 结构 vcsel 芯片 制备 方法
【主权项】:
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