[发明专利]一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法在审
| 申请号： | 202011077656.5 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112067511A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 李晓光;李晓旭;宁辉;刘岳强;陈权威;郑浩;孙健 | 申请（专利权）人： | 丹东百特仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 118009 辽宁省丹*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪及其检测方法，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元；方法为：控制单元控制透镜组聚焦点位置在样品池中间位置处；检测器收集原始散射光信号；计算互相关曲线；找出最高曲线效率对应的位置点；控制单元移动透镜到最高曲线效率对应的位置点；进行互相关计算得到样品颗粒的扩散系数，通过斯托克斯爱因斯坦方程得到颗粒的粒径。本发明真正实现了对于高浓度高浊度样品的准确检测，并进一步增进了快相关计算能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 背向 散射 互相 技术 纳米 粒度 及其 检测 方法 | ||
【主权项】：
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