[发明专利]测试方法和装置在审
| 申请号： | 202011066469.7 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114325294A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 张鹏;许超 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 李阳;臧建明 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种测试方法和装置，应用于对目标芯片的测试中，方法包括：获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量；采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试。本发明实施例通过在测试向量的端口信息中提取出到扫描端口信息并对扫描端口信息部分进行压缩，降低了测试向量的测试深度，减小了测试向量在ATE中的存储空间，从而降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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