[发明专利]测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011066462.5 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114328037A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 张鹏 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;臧建明 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试向量的存储和调试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定多个测试向量；其中，多个测试向量针对芯片中的同一测试问题，且多个测试向量中任意两个测试向量对应的测试问题的测试频率不同；分别对每个测试向量进行划分，获取每个测试向量的配置部分和测试端口部分；存储多个测量向量的信息；其中，多个测试向量的信息包括获取的每个测试向量的配置部分和任意一个测试向量的测试端口部分。本申请的方法，通过将测试向量分成配置部分及测试端口部分进行存储，由于只存储了一个相同的测试端口部分，节省了测试向量的占用空间，并没有改变测试向量本身的性质，因此提高了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 向量 存储 调试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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