[发明专利]一种电子元器件老化试验装置

摘要

本发明涉及元器件老化试验技术领域，且公开了一种电子元器件老化试验装置，包括底板，所述底板上表面四角均固定连接有支撑柱，所述支撑柱上表面固定连接有承载板，所述承载板上表面右前侧和右后侧均固定连接有滑轨，所述滑轨外表面套接有滑块，所述滑块内侧面固定连接有第一矩形板。该电子元器件老化试验装置，通过设置电动推杆、三棱块、第二支撑块、第二转轴和圆形滑槽，使传动轴可以较为方便稳定的与圆形滑槽适配，从而使左右两侧的传动块可以较为方便稳定的带动左右两侧的卡块对电子元器件进行固定，可以较为方便有效的对电子元器件进行老化试验，大大提高了电子元器件的试验效果。