[发明专利]基于指标体系架构的国产电子器件应用效果评估方法在审

专利信息
申请号: 202010981022.6 申请日: 2020-09-17
公开(公告)号: CN112257979A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 王晋婧;薛恩;李福秋;王小宁;角淑媛;郑紫霞;刘鼎 申请(专利权)人: 中国航天标准化研究所
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06F17/16
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 徐晓艳
地址: 100071*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及基于指标体系架构的国产电子器件应用效果评估方法,属于元器件自主可控技术领域。该方法为:(1)、获取国产电子器件应用效果通用指标体系架构;(2)、针对每个评估维度,应用主、客观权重信息的最优组合赋权方法对原始评分矩阵进行赋权,开展评价,得到每个评估维度的评估向量;(3)、将评估表征项作为评估对象,将每个评估维度的评估向量,当作评估对象指标要素,基于判断矩阵计算评估表征项对应的主观权重,并对评估维度评估结果进行赋权得到评估向量;(4)、将评估效果作为评估对象,将每个评估表征项的评估向量,当作评估表征项的指标要素,基于判断矩阵计算应用效果对应的主观权重,对评估表征项评估结果进行赋权,获得国产电子器件应用效果评估结果。
搜索关键词: 基于 指标体系 架构 国产 电子器件 应用 效果 评估 方法
【主权项】:
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