[发明专利]一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装及制造工艺在审

专利信息
申请号: 202010974977.9 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN111958482A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 刘溪笔;刘云志;杨国兴;吴继伟 申请(专利权)人: 大连达利凯普科技股份公司
主分类号: B24B37/28 分类号: B24B37/28;B24B37/30;B24B1/00;H01G13/00;H01G4/12
代理公司: 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 代理人: 毕进
地址: 116630 辽宁省大连*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种超薄单层陶瓷电容器基片吸真空工装及制造工艺,属于单层陶瓷电容器制造领域。技术方案:采用一次性树脂游轮工装对产品进行预处理,使基片从0受力到全面受力均匀逐步进行,将烧结后基片表面的杂质、凹坑、凸起去除,使产品平整厚度一致;正面减薄:采用减薄机与专用吸真空工装匹配对基片正面进行减薄;正面研磨:通过专用吸真空工装匹配,采用单面研磨机对基片正面进行研磨;正面抛光:通过专用吸真空工装匹配,采用单面抛光机对基片正面进行抛光;同理进行反面减薄、研磨、抛光。有益效果:本发明解决了现有工艺的极限厚度、精度、碎片率、外观不良等问题,完全可以满足100um厚度电容器所需基片要求,实现了超薄单层陶瓷电容器的制造。
搜索关键词: 一种 超薄 单层 陶瓷 电容器 基片吸 真空 工装 制造 工艺
【主权项】:
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