[发明专利]一种深低温区可变压力和温度的接触热阻测试系统在审

专利信息
申请号: 202010965520.1 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112129810A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 吴亦农;刘少帅;潘小珊;蒋珍华;杨宝玉;丁磊;黄政;朱海峰 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种深低温区可变压力和温度的接触热阻测试系统,其包括测试装置、压力加载装置、加热测温装置、制冷装置。测试装置包括真空腔体、绝热多层材料、防辐射冷屏、固体绝热材料、样品夹具、测试平台和真空腔底板;压力加载装置包括压力传感器、进气管路、承压波纹管和绝热螺杆;加热测温装置包括加热板、温度传感器和加热丝;制冷装置包括无氧铜冷头、制冷机和压缩机。其中压力加载装置、加热测温装置、无氧铜冷头安装在真空腔体内,承压波纹管通过绝热螺杆固定在无氧铜冷头和固体绝热材料上,制冷机安装在真空腔底板上,各装置之间通过螺钉紧固连接。本发明具有操作简单、温度波动小、可操作性高、测试时间短、精度高等优点。
搜索关键词: 一种 低温 可变 压力 温度 接触 测试 系统
【主权项】:
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