[发明专利]一种基于双包层光纤的多参量测量装置

摘要

本发明提供的是一种基于双包层光纤的多参量测量装置。所述的装置包括依次相连的光源1、单模光纤2、起偏器3、偏振控制器4、具有倾斜光栅6的双包层光纤5以及信号解调器7。所述的双包层光纤具有内外两层包层，倾斜光栅刻制在纤芯上。光源发出的光经过倾斜光栅后形成梳状透射谱，透射谱包含Bragg谐振峰，内包层谐振峰以及外包层谐振峰。当倾斜光栅外部环境变化时，倾斜光栅透射谱发生变化，通过监测谐振峰波长和强度变化实现对温度、弯曲、轴向应变、折射率等参量的实时检测，具有体积小、响应快、灵敏度高等优点。