[发明专利]低温下防试样结霜的非接触式全场测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 202010909917.9 | 申请日： | 2020-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN112082879A | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 陈金龙;林祥龙;冯晓卫;孙翠茹 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N3/18 | 分类号： | G01N3/18;G01N3/02 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 刘英梅 |
| 地址： | 300071*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种低温下防试样结霜的非接触式全场测量系统及测量方法，系统主要是以原位拉伸装置作为加载装置，以真空防护箱为固定装置，以液氮罐等制冷装置作为低温加载系统，对真空防护箱内进行降温处理，并搭载DIC系统进行成像并做全场变形测量。方法包括：1、对测量系统进行检查；2、安装原位拉伸装置和试样；3、连接防护箱内管道；4、开启抽真空装置；5、调节DIC系统摄像头；6、开启低温加载系统；7、开启PC拉伸控制器，进行拉伸试验；8、试验结束后关掉PC拉伸控制器、低温加载系统和抽真空装置，打开气孔；9、开箱，并取出试样；10、在DIC系统中进行全场应变分析，得出实验结果。本发明实现了低温下的拉伸加载试验。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 试样 结霜 接触 全场 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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