[发明专利]发射机的杂散辐射测试方法及系统在审
| 申请号： | 202010904417.6 | 申请日： | 2020-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN112019222A | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 马飞;杜军红;葛振纲 | 申请（专利权）人： | 上海龙旗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/04 | 分类号： | H04B1/04;H04B17/10;H04B17/15 |
| 代理公司： | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人： | 王奎宇;甘章乖 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的目的是提供一种发射机的杂散辐射测试方法及系统，本发明的程控频谱仪+射频开关的发射机的杂散辐射测试方案，不仅可以测试到13Ghz，可以覆盖GSM 4频全谐波、WCDMA全频全谐波、LTE全频全谐波测试，覆盖性大大提高；而且可以通过测试单音信号，在时域取值精确度高；另外，频谱仪每一次读取2、3、4、5次谐波值的测试效率大大提升。 | ||
| 搜索关键词： | 发射机 辐射 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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