[发明专利]异常数据分析方法、异常数据分析系统和存储介质在审

专利信息
申请号: 202010899148.9 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN114116829A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 郭慧峰;杨辉;彭鑫;薄开涛;刘怡倩;李雪婷;姚秋彦;张杰 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F16/2458 分类号: G06F16/2458;G06F16/28
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 孙浩
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种异常数据分析方法、异常数据分析系统和计算机可读存储介质,包括:获取样本数据集;将样本数据集中的样本数据映射至N维空间以得到距离矩阵,距离矩阵包括多个第一数据行,第一数据行与样本数据集中的样本数据一一对应,第一数据行包括在N维空间中与第一数据行对应的样本数据与样本数据集中其余样本数据之间的距离值,第一数据行中的距离值按照数值大小排序;根据距离矩阵得到DBSCAN算法的聚类半径和密度阈值;利用聚类半径和密度阈值确定样本数据集中的异常数据。本发明能够自动确定聚类半径和密度阈值,无需人为查看网络数据或人为设定聚类半径和密度阈值,并且能够自动检测异常数据,能够对海量数据进行高效准确的检测分析。
搜索关键词: 异常 数据 分析 方法 系统 存储 介质
【主权项】:
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