[发明专利]伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质有效
| 申请号： | 202010875254.3 | 申请日： | 2020-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN112051830B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 宋斌;詹建刚 | 申请（专利权）人： | 深圳市显控科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 黄广龙 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质，所述方法包括将伺服驱动器所在环境温度调整至设定温度；根据电机转速曲线控制伺服驱动器；采集测试参数；确定测试参数在设定阈值范围内，则伺服驱动器合格；其中，电机转速曲线包括若干个运行周期，运行周期包括一倍扭矩输出阶段、二倍扭矩输出阶段和三倍扭矩输出阶段。本发明实施例在设定环境温度下改变伺服驱动器的扭矩，并实时采集伺服驱动器的测试参数，通过测试参数实现对于伺服驱动器的老化测试。相较于现有的变负载的伺服驱动器老化测试方式，通过变扭矩进行伺服驱动器老化测试更符合伺服驱动器的运行状态，准确性更高。本发明可广泛应用于伺服驱动器测试领域中。 | ||
| 搜索关键词： | 伺服 驱动器 老化 测试 方法 系统 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市显控科技股份有限公司，未经深圳市显控科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010875254.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
