[发明专利]无需射频测试座的板级射频信号测试系统、方法及装置有效
申请号: | 202010838777.0 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN112003657B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 刘好;唐锡辉;左达恒 | 申请(专利权)人: | 深圳合一测试科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 深圳市深弘广联知识产权代理事务所(普通合伙) 44449 | 代理人: | 向用秀 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明所提出的无需射频测试座的板级射频信号测试系统、方法及装置,用于测试射频电路的射频信号;包括射频测试探针、调谐模块和测试仪表模块,射频测试探针一端与射频电路的天线弹片连接,另一端与调谐模块连接;调谐模块与测试仪表模块连接,调谐模块根据回波损耗调节匹配阻抗;匹配阻抗与射频电路的阻抗匹配;直接利用射频测试探针与射频电路中的天线弹片电连接,然后通过调谐模块调节匹配阻抗的大小,并且可以通过回波损耗的大小来判断匹配阻抗是否匹配到位,直到匹配阻抗与射频电路中的阻抗相匹配,以达到可直接通过天线弹片进行射频信号测试的目的;测试结果严谨、结构巧妙;省去了射频电路中射频测试座的设计空间和生产成本。 | ||
搜索关键词: | 无需 射频 测试 信号 系统 方法 装置 | ||
【主权项】:
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