[发明专利]薄膜电路板测试系统在审
| 申请号： | 202010828679.9 | 申请日： | 2020-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN111999633A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 张克引 | 申请（专利权）人： | 张克引 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及电路板测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种薄膜电路板测试系统，包括夹持部、滑动支撑部、间距调节部、角度调节部和基座，所述夹持部设有两个，两个所述夹持部相对转动配合在两个所述滑动支撑部上；两个所述滑动支撑部相对滑动配合在所述基座上；所述间距调节部固定连接在所述基座上；所述间距调节部传动连接两个所述滑动支撑部，以带动两个所述滑动支撑部在所述基座上相向滑动或背离滑动；所述角度调节部固定连接在所述基座上；所述角度调节部传动连接两个所述夹持部，以带动两个所述夹持部进行同步转动。本发明可以对不同尺寸的薄膜电路板进行夹持固定，便于测试人员采用测试探针对不同尺寸的薄膜电路板进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 电路板 测试 系统 | ||
【主权项】：
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