[发明专利]集成电路电磁干扰诊断系统及方法在审
| 申请号： | 202010777371.6 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN112230069A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 王显赫;童心 | 申请（专利权）人： | 北京经纬恒润科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王娇娇 |
| 地址： | 100020 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了集成电路的电磁干扰诊断系统及方法，由射频信号测量设备产生一定频率范围内的射频信号，该射频信号经过阻抗变换器和测试夹具传输至被测集成电路的测试端口，经由干扰源端口和阻抗变换器传输至射频信号测量设备。射频信号测量设备能够测得被测集成电路返回的射频信号的频域特性参数。上位机通过分析这两个射频信号的频域特性参数获得被测集成电路的电磁干扰分析结果。利用该系统即可获得集成电路中的电磁干扰分布情况，不需要专业的场地和设备，而且，诊断系统中的各设备的成本低，且连接简单，因此，整个系统的成本低、操作简单，节省了大量人力、财力，同时，节省了测试时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 电磁 干扰 诊断 系统 方法 | ||
【主权项】：
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