[发明专利]一种快速软恢复二极管功能性能的评估方法有效
| 申请号： | 202010769032.3 | 申请日： | 2020-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN112034321B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 刘艳秋;朱恒静;张洪伟;肖爱斌;罗磊;唐民;汪洋;王文炎;刘靖宇;郑雪松 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张丽娜 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速软恢复二极管功能性能的评估方法，特别涉及一种基于安全工作区验证的快速软恢复二极管功能性能的评估方法，属于元器件应用验证技术领域。通过对快速软恢复二极管进行全面的功能性能评估来检验快速软恢复二极管是否满足应用要求，评估内容包括不同温度条件下正向电压与正向电流关联特性、不同温度条件下反向耐压与反向漏电流关联特性、不同温度条件下反向恢复特性、反向恢复时间与温度的关联特性、反向恢复电流与温度的关联特性、稳态功率安全工作区验证和浪涌功率安全工作区验证。该方法结合用户需求和器件特性给出了基于安全工作区验证的快速软恢复二极管的功能性能的全面的验证项目。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 恢复 二极管 功能 性能 评估 方法 | ||
【主权项】：
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