[发明专利]一种提高RCS测试静区性能的方法在审
| 申请号： | 202010764625.0 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111983574A | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 唐文杰 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;H01Q17/00 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 250000*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及电磁特性测试技术领域，涉及一种提高RCS测试静区性能的方法。所述方法是在收发天线之间设置吸波材料，用以消除由于收发天线的耦合带来的测试杂波；所述吸波材料由介质基板和铜条微单元组成，所述铜条微单元之间等间距周期排列在介质基板正反面上，所述铜条微单元与介质基板轴线呈一定角度。本发明通过在收发天线之间放置一种吸波材料，该吸波材料的谐振单元结构由铜条和开关PIN二极管组成。该谐振单元结构可以通过控制铜条中间的开关PIN二极管的导通状态，从而改变谐振单元结构中铜条边宽，吸收L波段～KU波段全频段的杂波，消除RCS测试中收发天线的耦合信号，提高RCS测试静区的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 rcs 测试 性能 方法 | ||
【主权项】：
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