[发明专利]扩展电路、测试仪及测试方法在审
| 申请号： | 202010749300.5 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111983270A | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 余武 | 申请（专利权）人： | 华润赛美科微电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/30 | 分类号： | G01R1/30;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 虞凌霄 |
| 地址： | 518172 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种扩展电路、及测试仪及测试方法。该扩展电路包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；串行输入端，用于与测试仪的控制位板卡连接，并接收所述控制位板卡输出的串行信号；移位脉冲输入端，用于输入移位脉冲信号；所述移位寄存器用于根据所述移位脉冲信号将所述串行信号转化为多位所述并行信号后通过多个所述并行输出端输出，进而控制与所述并行输出端连接的各个继电器的导通和关断。本申请通过控制位板卡的一个控制位通道控制多个继电器的导通和关断，达到增加测试仪控制的继电器的数量的目的，消除了测试及电气控制位通道数对并行测试SITE数的限制，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 扩展 电路 测试仪 测试 方法 | ||
【主权项】：
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