[发明专利]一种用于采样器件的间接测温方法及结构在审

专利信息
申请号: 202010725595.2 申请日: 2020-07-24
公开(公告)号: CN111982352A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 赵洛阳;孟娟;陈高 申请(专利权)人: 浙江瑞银电子有限公司
主分类号: G01K13/00 分类号: G01K13/00;G01K1/18
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 311107 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种用于采样器件的间接测温方法及结构,方法包括以下步骤:电流确定的情况下,采集至少两次采样器件的电阻区以及导电区的电压,将得到的至少四个电压值进行数学计算处理,并根据电流以及电阻率温度系数计算出温差;如预先对某一温度下电压、电阻及温度的数值作配对,则结合配对结果将实际温差换算成实际温度。本发明的实质性效果包括:基于采样器件自身材料的温度特性,通过采集电参数的形式,以计算的方式得到温度,而不是直接采用传感器测量,可以防止因为热传导导致的温度差异,从而提高测温的精确度。
搜索关键词: 一种 用于 采样 器件 间接 测温 方法 结构
【主权项】:
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