[发明专利]一种GM-APD阵列相机性能指标测试装置及方法在审
| 申请号： | 202010695143.4 | 申请日： | 2020-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN112098980A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 包春慧;史要涛;于翠萍;于临昕;庞宏俊;谢俊喜;陈俊尧;周广通 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/89 |
| 代理公司： | 武汉智汇为专利代理事务所(普通合伙) 42235 | 代理人： | 李恭渝 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种GM‑APD阵列相机性能指标测试装置，包括信号发生单元、激光光源系统(含供电电源)、光束整形系统、暗箱、配有供电单元的待测相机和数据处理单元，所述暗箱提供待测相机测试需要的暗环境，所述光束整形系统和待测相机放置在暗箱内。本发明装置和方法可以对GM‑APD阵列相机暗计数率、探测效率、时间抖动、后脉冲概率等主要性能指标进行测试，通过该方法得到的结果可有效评估激光雷达系统实际使用性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 gm apd 阵列 相机 性能指标 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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