[发明专利]一种亚纳米光学检测系统及其检测方法有效
| 申请号： | 202010629503.0 | 申请日： | 2020-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN111965142B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 肖波涛;刘洋 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 李斌 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种亚纳米光学检测系统及其检测方法，该系统包括控制单元、样品池、光输送单元和成像单元；控制单元包括永磁铁和电机，电机驱动永磁铁旋转及移动；样品池盛放的单分子样品一端连接有盖玻片上，另一端连接有磁珠；光输送单元包括光源、弯头光纤、准直器、分束器和物镜，光源的光束依次经过弯头光纤、准直器及分束器后，形成反射光与折射光，使单分子样品的磁珠形成多个衍射环；成像单元包括研究级相机和计算模块，研究级相机采集单分子样品的磁珠图像并传输至计算模块，计算模块将采集的磁珠图像转化为二维光强分布，进而转化为磁珠的实时三维位置，得出被测磁珠的Z轴数值。本实施例实现了亚纳米级别精度的成像效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 光学 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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