[发明专利]一种集群磁流变抛光装置及其性能测试方法有效

专利信息
申请号: 202010618758.7 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN111975461B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 杜巧连;陈立鹏 申请(专利权)人: 浙江师范大学行知学院
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B29/02;B24B41/04;B24B41/06;B24B47/12;B24B49/16
代理公司: 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 代理人: 陈炳萍
地址: 321100 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及磁流变抛光技术领域,公开了一种集群磁流变抛光装置及其性能测试方法,包括底座,底座上固定有抛光盘,抛光盘上设置有凹槽,凹槽底部固定有多个凸块;抛光盘底部在每个凸块对应的位置设置有电磁感应线圈,凹槽的正上方设置有可升降的转轴,转轴上设置有固定待抛光工件的夹具,转轴上连接有扭矩传感器。本发明通过凸块将凹槽划分为多个小格,在磁场作用以及凸块对带有磨粒的磁流变液阻力作用下,高粘度的磁流变液不容易随抛光面一起旋转,可以提高带磨粒的磁流变液对待抛光面的去除效果,且抛光面平整;同时通过扭矩传感器实时监测转轴扭矩,通过扭矩计算出抛光装置对待抛光件的最大去除率,以实时监测抛光装置对待抛光工件的抛光性能。
搜索关键词: 一种 集群 流变 抛光 装置 及其 性能 测试 方法
【主权项】:
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