[发明专利]一种氧化锆/氧化铪铁电薄膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 202010613192.9 申请日: 2020-06-30
公开(公告)号: CN111763917B 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 王萱;孙中琳;刘尚;刘大铕 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;C23C14/58
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 李桂存
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种氧化锆/氧化铪铁电薄膜及其制备方法和应用,该薄膜的组成为HfZrO4,晶型为斜方晶型,其制备方法为采用磁控溅射沉积的方法,将氧化铪的靶材和氧化锆的靶材同时连接相同功率的工作电压,利用惰性气体同时轰击两个靶材来获得氧化锆/氧化铪混合薄膜,经快速退火处理,得氧化锆/氧化铪铁电薄膜。本发明通过混合两种不同的氧化物(氧化锆和氧化铪)材料,并通过快速退火处理,使获得的铁电体的极化后的极性更加的稳定,进而实现数据稳定存储功能本发明充分提高了铁电体的极化性能,满足了铁电体作为存储单元的应用需求。
搜索关键词: 一种 氧化锆 氧化 铪铁电 薄膜 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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