[发明专利]散焦辐射测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202010602901.3 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111789624B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 胡仁芳 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 单长芳
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请涉及一种散焦辐射测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质,其中,散焦辐射测量方法包括将模体设置于所述扫描床,所述模体上开设有狭缝,所述模体的狭缝与所述扫描腔的径向轴线呈预设角度设置;控制所述扫描床或所述机架沿轴向方向相对运动;在运动过程中,控制所述X射线球管扫描所述模体,并获取所述探测器接收到的辐射信号;根据所述辐射信号,得到所述探测器通道的散焦辐射分布。上述测量方法通过扫描床带动模体运动,并在多个床码位置曝光扫描模体,对模体的摆放要求低,通过调整模体的位置可以调整测量精度和测量范围;另外,该测量方法提高了散焦辐射测量信噪比和测量精度。
搜索关键词: 散焦 辐射 测量方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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