[发明专利]一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法有效
| 申请号： | 202010575638.3 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN111781445B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 刘书焕;黄泰燚;李卓奇;张坤;李龙;刘双瑛;张君;阿米尔;许江涛;张国和;陈伟 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/08 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 何会侠 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法，该系统包括射频信号源、射频功分器、恒压电压源、半导体参数测试仪、矩阵开关、上位机、辐照测试板以及测试样品板；射频信号源提供任意频率和幅值的电磁干扰信号，经过一分多射频功分器注入到多个测试样品之中；恒压电压源通过半导体参数测试仪为测试样品提供偏置电压；半导体参数测试仪通过矩阵开关可以同时连接多个测试样品，并为其设置不同偏置状态；通过上位机程序操控半导体参数测试仪，设置不同测试任务及为测试样品设置不同参数，完成参数测试；测试样品固定于辐照测试板上放置在辐照间接受粒子辐照；从而实现了辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐照 剂量 电磁 干扰 损伤 效应 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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