[发明专利]基于多图分时曝光的高精度2D尺寸测量方法

摘要

本发明涉及一种基于多图分时曝光的高精度2D尺寸测量方法，包括以下步骤，1)统计不同光源的曝光环境下，所有待测量边缘的清晰度；2)根据边缘清晰度，选取最佳组合的曝光环境；3)利用相机的采用分时曝光方式获取待测物在最佳组合的曝光环境下的多张图像，提取边缘特征，获得直线边缘的图像坐标；4)根据边缘的图像坐标和分辨率计算被测物的尺寸。本发明利用线阵相机的分时曝光，一次拍摄获取待测量物体在不同曝光条件下的多张图像，综合利用这些图像提取出物体表面的所有的需测量边缘特征，进而能够准确地测量出物体的2D尺寸，提高了测量的准确度，并降低了硬件的成本。