[发明专利]一种晶片切割工具检测系统及方法在审
申请号: | 202010571875.2 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN111693547A | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | 罗爱斌;陈章水;宾启雄;周铁军;叶水景;严卫东 | 申请(专利权)人: | 广东先导先进材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/952 | 分类号: | G01N21/952 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文;黄华莲 |
地址: | 511517 广东省清*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及晶片切割技术领域,尤其涉及一种晶片切割工具检测系统及方法,包括图像摄取模块,用于获取被测轮轴圆周面的图像;图像对比模块,用于将图像摄取模块获取的图像与预设图像特征库对比,得出被测轮轴圆周面图像的缺陷特征位置及缺陷特征类型。本发明实现轮轴圆周面缺陷的检测,通过图像摄取模块获取被测轮轴圆周面的图像,并传递到图像对比模块,图像对比模块将获取的图像与预设图像特征库进行对比,从而得出被测轮轴是否存在缺陷特征,有助于提高轮轴检测的效率和准确性;且检测过程中,竖直放置被测轮轴,能够避免水平放置时轮轴的圆周面与放置平台碰撞产生损伤。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶片 切割 工具 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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