[发明专利]一种光电子器件测试装置在审
| 申请号： | 202010570513.1 | 申请日： | 2020-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113899979A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 吴迪 | 申请（专利权）人： | 新沂崚峻光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R1/04;G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 221400 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及光电子器件测试技术领域，且公开了一种光电子器件测试装置，包括底座，所述底座的一侧顶端固定安装有支撑柱，所述支撑柱的顶端一侧固定安装有活动柱，所述活动柱的外表面活动安装有活动套，所述活动套与支撑柱之间设置有气缸，所述底座的顶端固定安装有加工板，所述加工板的顶端设置有放置座，所述活动套的底端活动安装有螺纹柱，所述螺纹柱的另一端螺纹连接有螺纹套。该光电子器件测试装置，通过设置放置座、螺纹柱、螺纹套、驱动齿轮、错位齿条、活动套和气缸等结构，使得能够对放置座处放置的光电子器件进行往复测试，从而提高了测试的效率，具备测试效果好等优点，解决了上述技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电子 器件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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