[发明专利]一种物质分析方法、装置和静电离子阱质量分析器有效
| 申请号： | 202010535945.9 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN111653472B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 黄超 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;G01N27/622 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 郭化雨 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种物质分析方法、装置和静电离子阱质量分析器，静电离子阱质量分析器包括接口装置和质量分析器，所述方法包括：在待检测物的离子进入接口装置，且第一外部导电体加载有第一电压以及第一内部导电体加载有第二电压的过程中，在第一外部导电体或第一内部导电体加载对应的电压脉冲；当达到预设时间时，将第三电压加载至第二外部导电体以及将第四电压加载至所述第二内部导电体；根据所述离子在所述质量分析器中的运动频率，确定待检测物中是否含有目标物质。该方法中提高了质量分析器的分析灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物质 分析 方法 装置 静电 离子 质量 分析器 | ||
【主权项】：
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