[发明专利]一种齿科单晶托槽破坏性试验检测箱有效
| 申请号： | 202010467953.4 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN111562170B | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 于国辉 | 申请（专利权）人： | 山东邦众医疗器械检验检测中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/02 | 分类号： | G01N3/02;G01N3/16 |
| 代理公司： | 北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11624 | 代理人： | 郭智 |
| 地址： | 250013 山东省济南市中国（山东）自由贸*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种齿科单晶托槽破坏性试验检测箱，包括检测箱和盖板，所述检测箱内设有开口向右的旋转腔，所述盖板的底面固设有凸块，所述旋转腔的前后壁间转动设有旋转轴，所述凸块固设在所述旋转轴外周上，所述盖板的顶面固设有手拉杆，所述检测箱内设有开口向上的检测腔，所述检测腔内设有能够通过所述盖板开闭来控制单晶托槽装夹的装载机构，所述装载机构包括滑动设在所述检测腔左壁上的升降台，本发明采用检测箱的模式，让单晶托槽的破坏性试验能够在一个密闭的环境中进行，并且可以通过盖的转动来控制升降台的升降，以便于单晶托槽的装载。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 齿科 单晶托槽 破坏性 试验 检测 | ||
【主权项】：
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