[发明专利]故障模式影响及危害性分析方法、计算机设备及存储介质

摘要

本申请涉及一种故障模式影响及危害性分析方法、计算机设备及存储介质。所述故障模式影响及危害性分析方法包括：获取各故障模式的各个风险因素的第一决策矩阵。获取各风险因素的风险权重向量。根据直觉二元语言效用加权集成算子与各风险因素的风险权重向量，将所述第一决策矩阵中的各故障模式的n种风险因素的直觉二元语言集成为各故障模式的综合二元语言。根据所述各故障模式的综合二元语言，获得各个故障模式的风险等级排序。本申请能够有效提高评估准确度。