[发明专利]功能测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202010467528.5 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113742199A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘子岳;王璐;王晨辉;周亮 | 申请（专利权）人： | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 陈蕾 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开关于功能测试方法、装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：响应于应用程序的功能测试需求，提取与功能测试需求对应的待测功能的参数；基于账户库中账户的功能参数，从账户库中确定出与待测功能的参数相匹配的候选账户，其中，账户库中账户的功能参数是根据账户库中账户的用户标识和用户标签从多个功能参数中确定的；根据确定出的候选账户生成实验样本集合，其中，候选账户登录的应用程序中配置有待测功能；记录实验样本集合和对照样本集合的账户在使用应用程序的过程中产生的行为数据，对照样本集合中的各个账户登录的应用程序配置的待测功能区别于待测功能；根据行为数据确定待测功能的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 功能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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