[发明专利]一种用于电路系统的分层序贯测试性建模方法有效
| 申请号： | 202010464342.4 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111626008B | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 陈岑;叶雪荣;杨赟;王浩南;胡义凡;翟国富 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人： | 高媛 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明目的在于提供一种可用于电路系统的分层序贯测试性建模方法，属于电子产品测试性分析与设计领域。首先确定电路系统的故障集与可用物理测点集，并通过建立多信号流图模型确定其中故障信息传播路径；以故障信息传播路径为依据，构建故障至测点的最短路径矩阵；随后以信息熵为依据确立测点可用度排序；仿真获取各故障状态下测点电信号波形；以确定的优先级排序提取各测点的可用特征，并依次增补形成故障‑测试特征矩阵；对每次增补后的矩阵充足性进行验证，直至满足规定要求，给出所需的测试性模型。本发明解决了测试性建模中测点可用性评价和序贯增补建模终止时机的判定问题，为电路系统的测试性建模提供了有效手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电路 系统 分层 测试 建模 方法 | ||
【主权项】：
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