[发明专利]面板残材检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 202010424389.8 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN111624208B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 巫欣荣 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 刁文魁 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种面板残材检测装置及检测方法，用于检测玻璃面板边缘的残材，所述面板残材检测装置包括控制单元、底盘、设置于所述底盘四边的多个对位栓以及对应设置于所述底盘四边的四个光栅；多个所述对位栓可平行于所述底盘移动并围成第一检测区域，所述控制单元调控多个所述对位栓与所述底盘的位置至预设裁切位置，所述光栅的边缘两端分别横架于相邻两所述对位栓上；其中，当所述残材阻挡所述光栅发出的光栅信号时，透过面板残材检测软件启动警报。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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