[发明专利]一种高分辨力准分布式物理量测量方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 202010413994.5 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN113670347B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 武湛君;赵士元 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 姜玉蓉;李洪福
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本申请公开了种高分辨力准分布式物理量测量方法,通过耦合于待测物体的光纤光栅阵列测量待测物体的物理量变化,其采用分布式反馈阵列激光器提供拼接的测量光并将测量物理状态下的中心波长与所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅各自的初始中心波长做比较获得中心波长变化量,进而得到所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅上的物理量变化。本申请采用一种等光频间隔采样的方式获取光栅阵列的光谱,进而实现光纤光栅阵列的波长解调与准分布式物理量测量。获得了大范围访问带宽,使得可以复用更多数量的光纤光栅,提高了单个光纤光栅可探测到的物理量测量的量程。本申请还公开了相应的装置和系统。
搜索关键词: 一种 分辨力 分布式 物理量 测量方法 装置 系统
【主权项】:
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