[发明专利]用于银耳中二氧化硫现场快速检测的方法及取样纸芯片有效

专利信息
申请号: 202010412745.4 申请日: 2020-05-15
公开(公告)号: CN111707653B 公开(公告)日: 2023-02-07
发明(设计)人: 李丹 申请(专利权)人: 上海应用技术大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 陈天宝
地址: 201418 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种用于银耳中二氧化硫现场快速检测的方法,包括:S1:通过苯甲醛‑品红复合物纸芯片擦拭待测试的银耳样品的表面,得到取样后的纸芯片;S2:利用便携式拉曼光谱仪检测取样后的纸芯片,检测时激发波长为785nm,获得样品的SERS图谱;S3:对SERS图谱进行特征峰比对,对二氧化硫进行定性检测,通过二氧化硫的浓度与拉曼信号强度之间的线性关系得对二氧化硫进行定量检测。与现有技术相比,本发明具有分析快速、灵敏度高、样品用量少、操作简便和携带方便等特点,可实现对银耳中SO2的分析检测,检测限为1.2×10‑8moL/L;取样过程为物理摩擦取样,检测精度和检测效率显著提升,满足了痕量检测的需求。
搜索关键词: 用于 银耳 二氧化硫 现场 快速 检测 方法 取样 芯片
【主权项】:
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