[发明专利]用于并行波形分析的测试和测量系统

摘要

本发明的技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。一种用于并行波形分析的测试和测量系统获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。该系统还获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。附加地，该系统在网络上使用多个测试装备的库存信息来跟踪多个测试资产，并且使得远程用户能够访问被存储在云计算系统上的装备日志以及对波形的相应分析的结果，以用于分析的执行。