[发明专利]一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备在审
| 申请号： | 202010403080.0 | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN111522330A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 张晓羽 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李翔 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备，通过生成对应于Spartan‑3系列FPGA器件各功能测试的编程配置文件，并分别生成与其对应的脚本文件，测试过程中一个功能测试结束后自动调用对应的脚本文件下载另一个功能的编程配置文件再次进行测试，并根据编程配置文件调整Spartan‑3系列FPGA器件的参数，完成Spartan‑3系列FPGA器件的自动重复配置测试，大大减少测试时间，提高测试效率，实现了Spartan‑3系列FPGA器件的多个功能测试，解决了Spartan‑3系列FPGA器件不能配置和测试相结合、不能多次重复配置测试的问题，使得Spartan‑3系列FPGA器件的测试能够自动化，通用性强，易于移植，大大缩短了FPGA测试程序开发的时间，降低开发成本，从而保障航天武器元器件可靠性，填补了对此类器件测试上的空白。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 器件 测试 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
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