[发明专利]一种基于磁共振指纹成像的快速定量T1ρ的方法有效

专利信息
申请号: 202010400589.X 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111685764B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 王前锋;王鹤;戴飞 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于磁共振成像技术领域,具体为基于磁共振指纹成像的快速定量T1ρ的方法。本发明方法包括在传统MRF序列前增加spin‑lock准备脉冲,通过合理建模,将信号的T1ρ演化与信号的T1、T2演化融合一起,使每个时间点采集的信号都包含T1、T2和T1ρ的成分。设计伪随机变化的序列参数TSL、FA、TR和TE,通过Bloch方程中磁化矢量的演化,建立不同弛豫时间值组合的字典,将实际采集到的图像序列与字典匹配,从而定量出T1ρ、T1和T2值。本发明定量T1ρ的方法与传统指数拟合的方法相比,可以大幅的缩短扫描时间,预期在T1ρ成像中具有较大的应用价值。
搜索关键词: 一种 基于 磁共振 指纹 成像 快速 定量 t1 方法
【主权项】:
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