[发明专利]一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法在审
申请号: | 202010349453.0 | 申请日: | 2020-04-28 |
公开(公告)号: | CN111537595A | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 张越;蒋鑫;郭慧;李鑫;盛华栋;张水峰;刘鹏鹏 | 申请(专利权)人: | 浙江方圆检测集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 沈渊琪 |
地址: | 310018 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种抗菌制品中纳米银迁移表征方法,属于纳米技术领域。该方法具体步骤包括:(1)样品预处理;(2)建立SP‑ICP‑MS模式下纳米颗粒粒径标准曲线;(3)建立银离子浓度校准标准曲线;(4)SP‑ICP‑MS检测样品。本方法基于单颗粒等离子体质谱(SP‑ICP‑MS)进行颗粒分析的原理,将样品中银离子与银纳米颗粒区分开来并能同时完成纳米颗粒浓度、粒径、粒度分布和颗粒团聚的检测且不受其他纳米颗粒的干扰的优势,可取代现有的纳米材料表征技术,成为一种新兴的快速鉴别的手段。 | ||
搜索关键词: | 一种 抗菌 制品 纳米 迁移 表征 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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