[发明专利]一种应用于单点激光检测的线条痕迹对比系统有效

专利信息
申请号: 202010346738.9 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN112381109B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 潘楠;沈鑫;赵成俊;黎兰豪崎;钱俊兵;夏丰领 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G06V10/74 分类号: G06V10/74;G06V10/20;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/0455;G06N3/084
代理公司: 北京隆达恒晟知识产权代理有限公司 11899 代理人: 杨青
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种应用于单点激光检测的线条痕迹对比系统,属于刑侦技术领域,所述的应用于单点激光检测的线条痕迹对比系统包括系统硬件和系统软件,所述的系统软件包括检测数据异常处理、数据降噪、比对模型建立,所述的系统硬件用于系统检测的数据采集以及弹头的固定。本发明利用激光位移传感技术和计算机控制技术对枪弹弹头表面膛线痕迹沿圆周方向进行360度快速数据扫描;将扫描数据进行降噪处理后,再利用计算机对扫描数据进行分析比对处理。从而快速准确的对不同弹头及枪支的相关性做出客观判断。
搜索关键词: 一种 应用于 单点 激光 检测 线条 痕迹 对比 系统
【主权项】:
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