[发明专利]一种电子产品性能测试系统在审
| 申请号： | 202010346405.6 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN111504378A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 郭茂玉;钱竹平;王玉玺 | 申请（专利权）人： | 上海申壳电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;G01D11/00 |
| 代理公司： | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人： | 孔令环 |
| 地址： | 201900 上海市宝*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于电子产品生产设备技术领域，具体的说是一种电子产品性能测试系统；包括测试箱体，所述测试箱体内部设置有多个分隔板，所述测试箱体被分隔板分割成多个分测室，所述分隔板上开设有T型槽；本发明通过在测试箱体内设置穿过各个分隔板的斜杆，当前分测室内的测试设备测试完成后，通过液压杆带动挡板上升，挡板不再对滑环阻挡，滑环顺着倾斜的斜杆移动到下一个分测室中，进而能够带动电子产品移动到下一个分测室中，无需使用额外的电力，降低了能源的消耗，同时由于多个挡板能够对不同的电子产品进行阻挡，使电子产品能够按顺序分布在每一个分测室中，不会出现多个电子产品同时进入一个分测室中的情况，保证了测试时的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
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