[发明专利]一种适用于微型断路器测试、校验与通电老化的一体化装置在审
申请号: | 202010329998.5 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN113359018A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 金福根;杨家发 | 申请(专利权)人: | 南京捷泰电力设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211134 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供的一种适用于微型断路器测试、校验与通电老化的一体化装置,包括:第一箱体、仪器仪表、温度调节装置。第一箱体内包含:传输线、固定装置、通电装置、执行机构;通电装置利用连接线与仪器仪表进行连接,并用开关元件实现通电装置与仪器仪表的接通与断开,以及控制开关元件的闭合与断开的顺序,将同一通电装置与不同的仪器仪表进行接通和断开,实现微型断路器的测试、校验与通电老化均在同一固定装置和同一通电装置下完成;其优点在于:将微型断路器的测试、校验及通电老化集中在同一个箱体内完成,不仅可以减少产品的搬运和所需生产场地的面积,还可以在老化的同时,灵活的对产品的功能进行反复测试,提高了产品的质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 微型 断路器 测试 校验 通电 老化 一体化 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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