[发明专利]一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统在审
| 申请号： | 202010324509.7 | 申请日： | 2020-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN111624419A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 雷洁;高鹏鹏 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/28 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统，上述测试适配器包括适配器壳体，适配器壳体上装有用于放置待测晶振的插座，所述插座上设有与待测晶振上各管脚定义相匹配的电压控制端、接地端、频率输出端和电源端，适配器壳体内装有与插座上电源端连接的第一电容和与插座上频率输出端相连的电阻，第一电容的另一极接地，电阻的另一端与设在适配器壳体上的频率输出接头相连。本发明能够实现对普通晶体振荡器较精确的测试。本发明还提供一种晶体振荡器的测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体振荡器 测试 适配器 系统 | ||
【主权项】：
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