[发明专利]光纤干涉仪臂长差测试系统及测试方法在审
申请号: | 202010320496.6 | 申请日: | 2020-04-22 |
公开(公告)号: | CN111551198A | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 叶蕾;叶青;蔡海文;翟荣辉;王照勇;卢斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海中科神光光电产业有限公司 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于随机相位噪声分离技术的光纤干涉仪臂长差测试系统及测试方法,该系统包括:扫描激光器、单频激光器、测试光路、待测光纤干涉仪、信号采集模块、信号处理系统。测试光路是由1个2*2光纤耦合器,1个光纤环形器,2个波分复用器(WDM)组成;待测光纤干涉仪为1副迈克逊干涉仪,由1个2*2光纤耦合器、1卷光纤线圈和2个法拉第反射镜组成;信号采集模块功能主要包括光电转换,模拟信号采集和信号模数转换;信号处理系统功能包括扫数据采集模块控制、光纤干涉仪臂长差数字信号处理。本发明能在噪声和振动环境下实现光纤干涉仪臂长差的高精度测试。 | ||
搜索关键词: | 光纤 干涉仪 臂长差 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
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