[发明专利]激光测距系统的校正方法及装置、处理设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010313666.8 申请日: 2020-04-20
公开(公告)号: CN113552558B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 夏冰冰;程海全;宋大志;舒博正;张树强;石拓 申请(专利权)人: 北京一径科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/10
代理公司: 北京善任知识产权代理有限公司 11650 代理人: 金杨;张振伟
地址: 102208 北京市昌平区回龙*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种激光测距系统的校正、测距方法及装置、处理设备及存储介质,所述校正方法包括:计算目标物与激光测距系统之间的至少一设定距离的理论飞行时长;获取包含所述至少一设定距离中至少之一的所述目标物与所述激光测距系统之间的不同距离下的脉宽,以及脉宽对应的前沿脉冲时刻;根据不同距离下的脉宽及对应的前沿脉冲时刻,分段拟合脉宽与所述脉宽对应的前沿脉冲时刻之间的关联关系;对每段拟合后的脉宽与对应的前沿脉冲时刻之间的关联关系进行修正,将每段修正后的脉宽与对应的前沿脉冲时刻之间的关联关系拟合成连续关联关系;将所述连续关联关系配置为所述激光测距系统的测距校正参数。
搜索关键词: 激光 测距 系统 校正 方法 装置 处理 设备 存储 介质
【主权项】:
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