[发明专利]基于飞行时间质谱的石墨烯量子点横向尺寸表征方法在审
| 申请号： | 202010308051.6 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN111537597A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 丁古巧;杨思维;梁勇;葛正祥 | 申请（专利权）人： | 上海超碳石墨烯产业技术有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;G01N1/38;H01J49/00;H01J49/40 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐俊 |
| 地址： | 200444 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于飞行时间质谱的石墨烯量子点横向尺寸表征方法，其特征在于，包括：将石墨烯量子点粉体溶于溶剂中制得第一混合液；分别将2,5‑二羟基苯甲酸水溶液、NaCl水溶液、LiCl水溶液加入第一混合液中得到第二混合液；进行质谱测试。该方法与传统方法相比，具有可靠性高、简便等优点，可通过精细谱学结构确定石墨烯量子点横向尺寸结构信息。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 飞行 时间 石墨 量子 横向 尺寸 表征 方法 | ||
【主权项】：
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