[发明专利]一种磁致伸缩导波和漏磁双功能扫查器有效

专利信息
申请号: 202010237963.9 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN111521689B 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 吴斌;刘飞鹏;杨宁祥;刘秀成;刘尧 申请(专利权)人: 北京工业大学;广东省特种设备检测研究院珠海检测院
主分类号: G01N29/24 分类号: G01N29/24;G01N29/265;G01N27/83
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种磁致伸缩导波和漏磁双功能扫查器,由扫查器本体、磁致伸缩导波检测模块和漏磁阵列检测模块构成。扫查器本体内置有U型永磁磁路,用于对待测结构件进行偏置磁化,传感器抽盒内包括矩形线圈及其适配器或漏磁阵列传感器。传感器抽盒内电路元件均与通用电气接口连接,以与外部磁致伸缩导波和漏磁阵列检测模块进行信号传输。编码器通过齿轮传动装置安装在导轮轴上,记录导轮扫查过程中的位移。手持扫查器本体沿粘贴在待测结构表面的铁钴合金条带进行移动,可以采集磁致伸缩水平剪切模态导波在结构中的反射信号,快速确定结构中疑似缺陷位置。本发明可有效提高大范围内结构缺陷的定位速度和降低误检率。
搜索关键词: 一种 伸缩 导波 漏磁双 功能 扫查器
【主权项】:
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